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    1. 日本電子-JXA8230
      發布時間: 2021-03-09 16:12:09來源:上譜分析瀏覽次數: 435
      電子探針顯微分析系統(EPMA)
      生產廠家: JEOL(日本)            儀器型號: JXA-8230
      儀器特色
      二次電子像分辨率可達6nm(工作距離11mm);背散射電子像分辨率可達20nm(拓撲像、成分像);加速電壓可調范圍為0~30kV;束流范圍為10-12~10-5A;具有四級物鏡可變光欄;圖像放大倍數為×40~×300,000,連續可調;電子束位移小于1μm/h;分析元素范圍:5B - 92U;X射線出射角為40°;分光晶體有全聚焦型晶體和半聚焦型晶體兩種,每道2個晶體,分光晶體交換時間少于1.5秒;羅蘭圓半徑有100mm和140mm兩種;具有反光顯微鏡,分辨率1μm,放大倍率300倍,可同時顯示二次電子像、背散射電子像、彩色光學顯微像,還可以得到上述圖像的數字化像。
       
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